Objectif de microscope réfléchissant 19,9 mm Focale 10X
OBLR-10A
Ces objectifs de microscope réflectifs sont optimisés pour l'aberration chromatique sur une plage de longueurs d'onde de 350 nm à 7 µm. Ils sont principalement utilisés dans la microscopie-spectrométrie et l'analyse de défaillance dans l'industrie des semi-conducteurs.
◦Réglable pour une utilisation avec différents types de tubes de microscope avec une distance focale allant de 80 mm à l'infini
◦Le miroir de réflexion est renforcé avec un revêtement en aluminium et une couche protectrice MgF2.
◦Le RMS( Le filetage de montage M20.32 P0.706) est conforme à la norme JIS et est compatible avec tous les principaux tubes de microscope.
◦Le point focal et la taille de l'image des longueurs d'onde visibles, UV et IR ne montrent aucune différence et une correspondance précise des images est possible .
◦Le miroir de réflexion est renforcé avec un revêtement en aluminium et une couche protectrice MgF2.
◦Le RMS( Le filetage de montage M20.32 P0.706) est conforme à la norme JIS et est compatible avec tous les principaux tubes de microscope.
◦Le point focal et la taille de l'image des longueurs d'onde visibles, UV et IR ne montrent aucune différence et une correspondance précise des images est possible .
Nom | Objectif de microscope réfléchissant 19,9 mm Focale 10X |
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Poids | 0.3000kgs |
Standard Coatings Available | Non |
Guide |
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Remark | - |
Attention |
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Image Label | Reflective Microscope Objective 19.9mm Focal Length 10X |
Magnification | 10× |
Numerical Aperture | 0.2 |
Working Distance WD | 16mm |
Grossissement | 10× |
Plage de longueur d'onde | 350nm - 7μm |
Longueur focale f | 19.9mm |
Ouverture numérique (NA) | 0.2 |
Champ visuel | |
Distance de travail (WD) | 16mm |
Longueur de tube mécanique | 80 - ∞mm (variable) |
Rapport de blindage | environ 36 % |
En stock
SKU
OBLR-10A
2 464,30 €
Ces objectifs de microscope réflectifs sont optimisés pour l'aberration chromatique sur une plage de longueurs d'onde de 350 nm à 7 µm. Ils sont principalement utilisés dans la microscopie-spectrométrie et l'analyse de défaillance dans l'industrie des semi-conducteurs.