Verkeiltes Substrate BK7 10mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/10
WSB-10C05-10-1
Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
◦It can also be used as a prism to refract at a small angle. Beam deflection angle δ can be calculated refractive index n, from the wedge angle α.
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7, 0.52 times the angle of the wedge, and in synthetic fused silica, 0.46 times the angle of the wedge. (Visible range, normal incidence)
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7, 0.52 times the angle of the wedge, and in synthetic fused silica, 0.46 times the angle of the wedge. (Visible range, normal incidence)
| Name | Verkeiltes Substrate BK7 10mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/10 |
|---|---|
| Gewicht | 0.0050kgs |
| Standardbeschichtungen verfügbar | Nein |
| Leitfaden |
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| Achtung |
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| Image Label | Wedged Substrate BK7 10mm Diameter 1 Degree Wedge Angle λ/10 |
| Durchmesser φD | 10mm |
| Material | BK7 |
| Material | BK7 |
| Durchmesser φD | φ10mm |
| Dicke t | 5mm |
| Oberflächenebenheit | λ/10 |
| Keilwinkel | 1°±5′ |
| Oberflächenqualität (Scratch-Dig) | 10−5 |
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SKU
WSB-10C05-10-1
42,40 €
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Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
