Verkeiltes Substrat Quarzglas 100mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/20
WSSQ-100C15-20-1
Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
◦Es kann auch als Prisma verwendet werden, um in einem kleinen Winkel zu brechen. Strahlablenkwinkel δ kann aus dem Keilwinkel α der Brechungsindex n berechnet werden.
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7 der 0,52-fache Keilwinkel und in synthetischem Quarzglas 0,46 mal den Winkel des Keils. (Sichtbarer Bereich, normaler Einfall)
δ ＝ sin−1（ n sinα） − α ≒（ n − 1） α
◦In BK7 der 0,52-fache Keilwinkel und in synthetischem Quarzglas 0,46 mal den Winkel des Keils. (Sichtbarer Bereich, normaler Einfall)
| Name | Verkeiltes Substrat Quarzglas 100mm Durchmesser 1 Keilwinkel λ/20 |
|---|---|
| Gewicht | 0.2600kgs |
| Standardbeschichtungen verfügbar | Nein |
| Leitfaden |
|
| Achtung |
|
| Image Label | Wedged Substrate Synthetic Fused Silica 100mm Diameter 1 Degree Wedge λ/20 |
| Durchmesser φD | 100mm |
| Material | Synthetisches Quarzglas |
| Material | Quarzglas |
| Durchmesser φD | φ100mm |
| Dicke t | 15mm |
| Oberflächenebenheit | λ/20 |
| Keilwinkel | 1°±5′ |
| Oberflächenqualität (Scratch-Dig) | 20−10 |
Auf Lager
SKU
WSSQ-100C15-20-1
2.036,60 €
Customize product
Verkeilte Substrate können den reflektierten Strahl durch den leichten Keilwinkel von der Vorder- und Rückseite der Substrate trennen. Sie können als Referenzprüfplatte für Interferometer und Beam Sampler verwendet werden.
