UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 190 - 1100 nm
BA7-UV-USB
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
| Name | UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 190 - 1100 nm |
|---|---|
| Gewicht | 0.1000kgs |
| Image Label | Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler : 7-blades, UV-Si detector 9mm square |
| Spektralbereich | 190 - 1100 nm |
| Strahldurchmesser-Bereich | 15 µm - 9 mm |
| Anzahl der Klingen | 7 |
| Specifications | 7-blades, UV-Si detector 9mm square |
| Sensor Type | UV-Silicon (UV-Si) |
| Leistung Range | 10 µW to 1 W |
| Position Accuracy | ±15 µm |
| Beamwidth Accuracy | ±2% |
| Beamwidth Auflösung | 1 µm für beams>100 µm in Größe, 0.1µm für beams<100µm in Größe |
| Betriebstemperatur | 10°C to 35°C |
Auf Lager
SKU
BA7-UV-USB
6.970,00 €
Customize product
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
