UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 190 - 1100 nm

BA7-UV-USB

CE
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
Weitere Informationen
Name UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 190 - 1100 nm
Gewicht 0.1000kgs
Image Label Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler : 7-blades, UV-Si detector 9mm square
Spektralbereich 190 - 1100 nm
Strahldurchmesser-Bereich 15 µm - 9 mm
Anzahl der Klingen 7
Specifications 7-blades, UV-Si detector 9mm square
Sensor Type UV-Silicon (UV-Si)
Leistung Range 10 µW to 1 W
Position Accuracy ±15 µm
Beamwidth Accuracy ±2%
Beamwidth Auflösung 1 µm für beams>100 µm in Größe, 0.1µm für beams<100µm in Größe
Betriebstemperatur 10°C to 35°C
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SKU
BA7-UV-USB
6.970,00 €

Delivery in : 6-12 weeks

Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler