UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 3 Lamellen für 190 - 1100 nm
BA3-UV-USB
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
| Name | UV-Silizium (UV-Si) Strahlprofiler, 3 Lamellen für 190 - 1100 nm |
|---|---|
| Gewicht | 0.1000kgs |
| Image Label | Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler : 3 blades, UVSi detector, 5mm circular |
| Spektralbereich | 190 - 1100 nm |
| Strahldurchmesser-Bereich | 3 µm - 5 mm |
| Anzahl der Klingen | 3 |
| Specifications | 3-blades, UV-Si detector 5mm circular |
| Sensor Type | UV-Silicon (UV-Si) |
| Beamwidth Auflösung | 1 µm für beams>100 µm in Größe, 0.1µm für beams<100µm in Größe |
| Beamwidth Accuracy | ±2% |
| Leistung Range | 10 µW to 1 W |
| Leistung Accuracy | ±5% |
| Position Auflösung | 1 µm |
| Position Accuracy | ±15 µm |
| Saturation | 0.1 W/cm² ohne filter |
| Measuremet Rate | 5 Hz |
| Betriebstemperatur | 10°C to 35°C |
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BA3-UV-USB
6.494,00 €
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