Silikon (Si) Strahlprofilierer, 3 Klingen für 350 - 1100 nm

BA3-Si-USB

CE
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
Weitere Informationen
Name Silikon (Si) Strahlprofilierer, 3 Klingen für 350 - 1100 nm
Gewicht 0.1000kgs
Image Label Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler : 3 blades, Si detector 5mm circular
Spektralbereich 350 - 1100 nm
Strahldurchmesser-Bereich 3 µm - 5 mm
Anzahl der Klingen 3
Specifications 3-blades, Si detector 5mm circular
Sensor Type Silicone (Si)
Beamwidth Auflösung 1 µm für beams>100 µm in Größe, 0.1µm für beams<100µm in Größe
Beamwidth Accuracy ±2%
Leistung Range 10 µW to 1 W
Leistung Accuracy ±5%
Position Auflösung 1 µm
Position Accuracy ±15 µm
Saturation 0.1 W/cm² ohne filter
Measurement Rate 5 Hz
Betriebstemperatur 10°C to 35°C
Auf Lager
SKU
BA3-Si-USB
6.035,00 €

Delivery in : 6-12 weeks

Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler

We detect that you are accessing the website from a different region. You will be redirected to a local version of OptoSigma.