InGaAs Enhanced (IRE) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 1200 - 2700 nm
BA7-IR3E-USB
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
| Name | InGaAs Enhanced (IRE) Strahlprofiler, 7 Lamellen für 1200 - 2700 nm |
|---|---|
| Gewicht | 0.1000kgs |
| Image Label | Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler |
| Spektralbereich | 1200 - 2700 nm |
| Strahldurchmesser-Bereich | 15 µm - 3 mm |
| Anzahl der Klingen | 7 |
| Specifications | 7-blades, InGaAs Enhanced 3mm circular |
| Sensor Type | InGaAs Enhanced (IRE) |
| Beamwidth Auflösung | 1 µm für beams>100 µm in Größe, 0.1µm für beams<100µm in Größe |
| Beamwidth Accuracy | ±2% |
| Leistung Range | 10 µW to 5 mW |
| Leistung Accuracy | ±10% |
| Position Auflösung | 1 µm |
| Position Accuracy | ±15 µm |
| Saturation | 0.1 W/cm² ohne filter |
| Measurement Rate | 5 Hz |
| Betriebstemperatur | 10°C to 35°C |
Auf Lager
SKU
BA7-IR3E-USB
8.976,00 €
Customize product
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
