InGaAs Enhanced (IRE) Strahlprofiler, 3 Klingen für 1200 - 2700 nm

BA3-IR3E-USB

CE
Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler
-
Weitere Informationen
Name InGaAs Enhanced (IRE) Strahlprofiler, 3 Klingen für 1200 - 2700 nm
Gewicht 0.1000kgs
Spektralbereich 1200 - 2700 nm
Strahldurchmesser-Bereich 3 µm - 3 mm
Anzahl der Klingen 3
Leistung Range 10 µW to 5 mW
Pwer Accuracy ±10%
Position Auflösung 1 µm
Position Accuracy ±15 µm
Saturation 0.1 W/cm² ohne filter
Measurement Rate 5 Hz
Betriebstemperatur 10°C to 35°C
Auf Lager
SKU
BA3-IR3E-USB
8.670,00 €

Delivery in : 6-12 weeks

Multiple Scanning Knife-Edge Beam Profiler

We detect that you are accessing the website from a different region. You will be redirected to a local version of OptoSigma.